Análisis SEM hasta 33,000 aumentos con detección elemental EDS desde Boro hasta Uranio. Para fractografía, análisis de fallas, mapeo composicional y todo lo que el microscopio óptico ya no alcanza a ver.
El microscopio óptico llega hasta unos 1,000 aumentos. El SEM llega hasta 33,000 aumentos con resolución nanométrica. Para defectos de superficie, fracturas frágiles, inclusiones submicrométricas — necesitas ir mucho más allá.
Y un SEM con EDS hace algo más: te dice de qué está hecho el defecto. ¿Óxido? ¿Sulfuro? ¿Contaminación de procesamiento? Análisis elemental localizado al punto exacto donde la pieza falló.
Fractografía de superficies fracturadas. Distinguir fractura frágil vs. dúctil, fatiga vs. sobrecarga, identificar el origen de la grieta. La evidencia más sólida cuando un componente falló en operación.
EDS sobre una inclusión o fase desconocida revela qué elementos contiene. ¿Al + O? Inclusión Al₂O₃. ¿Cr + C? Carburos precipitados. Composición localizada en segundos.
Stents, conectores, microcomponentes — donde el microscopio óptico no alcanza. Topografía superficial y composición elemental en una sola sesión.
Imagen SEM de alta resolución y análisis elemental EDS — combinables en una sola muestra. Para fractografía, microestructura, defectos puntuales o caracterización composicional.
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Antes de la prueba, viene la probeta. Una probeta mal maquinada invalida el resultado más caro de tu laboratorio. Operamos un servicio dedicado con tolerancias críticas bajo norma ISO y ASTM.
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