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Análisis por Microscopía electrónica de barrido 

Análisis por Microscopía Electrónica de Barrido - SEM

Especificación:
Alcance:
33 000x

(Scanning Electron Microscopy - SEM)

Ofrecemos servicios de Análisis por Microscopía de Barrido - SEM, con un alcance en aumentos hasta de 33 000x, con un rango elemental desde el B hasta el U.

Durante el análisis SEM, se pueden realizar ensayos de fractografía, EDS para analizar quimicamente algún área puntual, donde podemos observar la presencia de impurezas o inclusiones.

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